การประยุกต์ใช้แหล่งที่มาของ APM DC ในการทดสอบฟิวส์

ในความผิดพลาดทางไฟฟ้าหรือสถานการณ์ที่ผิดปกติกระแสจะเพิ่มขึ้นอย่างต่อเนื่อง หากไม่มีอุปกรณ์ป้องกันในวงจรการเพิ่มกระแสไฟทำให้เกิดความร้อนอย่างต่อเนื่องซึ่งอาจทำให้วงจรและไฟไหม้ ฟิวส์เป็นอุปกรณ์ที่สำคัญที่สุดในการป้องกันวงจรสามารถป้องกันวงจรได้โดยการ แตกกระแสเมื่อหลอมละลาย ด้วยเหตุนี้การเลือกแหล่งจ่ายไฟที่เหมาะสมสำหรับการทดสอบฟิวส์จึงมีความสำคัญมากกว่า มันไม่เพียง แต่สามารถปรับปรุงประสิทธิภาพ แต่ยังรับประกันความถูกต้องของการทดสอบ

คุณลักษณะด้านล่างทำให้ APM กลายเป็นส่วนที่ได้รับความนิยมในการทดสอบฟิวส์

โหมดสั้น ๆ

ฟิวส์อาจเทียบเท่ากับการต่อต้าน Milliohm ในการทดสอบจริงแรงดันเอาต์พุตของแหล่งพลังงานต่ำมากเกือบใกล้กับโหมดลัดวงจร เมื่อโหมดสั้นปิดแหล่งพลังงานสามารถเก็บเอาต์พุตกระแสสูงได้อย่างต่อเนื่อง

โหมดจับเวลา

พลังงานที่ติดตั้งกับฟังก์ชั่นตัวจับเวลามีบทบาทสำคัญในการทดสอบ เมื่อตั้งค่าการหลอมรวมจุดปัจจุบันและตัดจุดจับเวลาตัวจับเวลาแหล่งพลังงานสามารถแสดงเวลาที่หลอมรวมในหน้าจอของแหล่งจ่ายไฟหลังการทดสอบโดยไม่มีเครื่องมือที่ถูก จำกัด เช่นออสซิลโลสโคปเพื่ออ่านเวลาที่หลอมรวม การแก้ไขเวลาอาจถึง 200ms ซึ่งใช้ได้กับฟิวส์ด้วยการหลอมรวมเวลานาน

ลำดับความสำคัญของ CV/CC

เลือกลำดับความสำคัญของ CC อาจมีการเพิ่มขึ้นอย่างรวดเร็วในปัจจุบันและค่าใช้จ่ายขั้นต่ำสุดซึ่งอาจได้รับรูปคลื่นในปัจจุบันที่สะอาด

ปัจจุบันเพิ่มขึ้นอย่างรวดเร็ว

การหลอมรวมเวลาฟิวส์จะสั้นลงเมื่อเพิ่มกระแสไฟฟ้า มีความจำเป็นที่จะต้องมีกระแสที่เพิ่มขึ้นอย่างรวดเร็วเพื่อตอบสนองความต้องการการทดสอบหรือฟิวส์จะหลอมรวมก่อนการทดสอบจุดปัจจุบัน

โหมดสแลฟมาสเตอร์

สนับสนุนเอาต์พุตการเชื่อมต่อแบบขนานมาสเตอร์-สแลฟ รองรับการทดสอบกระแสที่สูงขึ้นและง่ายต่อการขยายกระแส เวลาตอบสนองในโหมด Master-Slave เท่ากับหน่วยเดียว จำเป็นต้องใช้แหล่งพลังงานเพียงแหล่งเดียวเท่านั้น

ความมั่นคง

ความต้านทานภายในจะเปลี่ยนไปเมื่อการทดสอบดำเนินไป การทดสอบความทนทานของการทดสอบฟิวส์และอุณหภูมิต้องการพลังงานทำให้เอาต์พุตเสถียรในเวลานาน

แพลตฟอร์มนั้นง่ายต่อการสร้าง มันสามารถเริ่มทดสอบหลังจากเชื่อมต่อโหลดและฟิวส์โดยไม่ต้องใช้อุปกรณ์เสริมอื่น ๆ หากคุณมีข้อสงสัยในการทดสอบคุณสามารถโทรหา APM เรามีทีมงานมืออาชีพที่จะเสนอทางออกที่มีประสิทธิภาพให้คุณตรงเวลา

APM ซึ่งเป็นตัวเลือกที่มีประสิทธิภาพและมีประสิทธิภาพสูงกว่าในการทดสอบฟิวส์